Die Röntgenstrahlung kann bei extremer Anwendung zur Beschädigung von Elektronikkomponenten wie Halbleitern oder zur Trübung von optischen Komponenten führen. Bei einer üblichen Computertomographie werden solch extreme Messzeiten nicht erreicht. Für Elektronikkomponenten ist es ratsam, diese im stromlosen Zustand zu scannen, da der Effekt der Halbleiterdotierung besonders im bestromten Zustand auftritt. Eine Aktivierung der Objekte ist bei den eingesetzten Energien nicht vorhanden.